1、X*线衍*及透*电子显微镜来表征
2、采用X*线衍*确定薄膜物相。
3、薄膜的物相由X*线衍*(XRD)确定。
4、通过X*线光电子能谱及X*线衍*表征了薄膜的化学结构。
5、用X*线衍*法测定了亲水涂层的表面结晶度
6、无定型钢可以具有如图示的X*线衍*图样
7、并用X*线衍*法和IR对产物进行了表征。
8、检测了该涂层的X*线衍*图、拉曼谱图和形貌。
9、利用透*电镜（TEM）、X*线衍*（XRD）、X*线光电子谱，表征了金纳米粉末的结构、形貌及其化学组分。
10、采用X*线衍*和透*电子显微镜研究了试样的显微结构。
11、使用X*线衍*和透*电镜分析，表明异质结是c轴取向外延生长。
12、中子散*可以说是对X*线衍*和电子衍*的一个重要的和不可缺少的补充。
13、用X*线衍*和阳极极化曲线分析了热处理对镀层耐蚀*的影响。
14、通常用X*线衍*线的半高宽作为材料表面的强度指标。
15、重点介绍了X*线相干散*成像技术、X*线衍*增强成像技术和X*线相干散*CT成像技术的研究和进展。
16、使用X*线光电子能谱仪(XPS)、X*线衍*仪(XRD)、原子力显微镜(afm)对薄膜的结构进行了分析。
17、X*线衍*，扫描电子显微镜，X*线光电子能借测量表明生长的BNN膜是外延单晶膜。
18、阐述了X*线的产生原理，X*线衍*分析内容及其在材料分析中的应用。
19、双通道同时完成X*线衍*的时间分辨和空间分辨；
20、结果：X*线衍*实验表明，此固态分散体中fd为无定型、无结晶。
21、利用X*线衍*法可以较客观定量高炉渣中非晶态含量。
22、用红外光谱法和X*线衍*法分析了合成产物的结构。
23、借助X*线衍*和阻抗分析仪对其相结构和介电*能进行了测试。
24、提出一个利用多层膜小角X*线衍*谱衍*峰积分强度计算多层膜界面粗糙度的公式。
25、基于X*线衍*与吸收理论，提出一种薄膜厚度测量方法即膜下基体衍*法。
26、利用X*线衍*(XRD)和俄歇电子衍*(AES)观察了表面膜的化学成分及结构。
27、以X*线衍*（XRD）、透*电子显微镜（TEM）、发*光谱和衰减时间谱等手段表征材料*能。
28、用X*线衍*X*线光电子能谱X*线电子探针红外光谱等方法对分子筛进行了结构研究，并用阶梯扫描方法测得其晶胞参数
29、其中透*电镜观察法和X*线衍*线宽法由于技术成熟，是现在纳米颗粒测试的主要方法；
