1、本发明涉及具有单端读出放大器的半导体器件。
2、本发明提供一种用于读取存储器单元的状态的读出放大器电路。
3、将磁心存储器读出放大器的输出选通到寄存器的触发器中的一种脉冲。
4、本文还对读出放大器的设计提出了若干改进建议。
5、将磁心记忆体读出放大器的输出选通到寄存器的触发器中的一种脉冲。
6、借助于计算机的模拟计算，对于读出放大器的设计作了一些改进。
7、在CMOS，不论是在读出放大器探头和每一个像素的一部分。
8、因此可通过连接到位线的电压比较器读出放大器来检测存储器元件的状态。
9、一种减少读出放大器功耗，防止错误*作并可高速工作的半导体存储器。
10、所述读出放大器基于所述启用信号检测用于所述列存储器单元的位线。
11、所述存储器装置包括M个正规字线驱动器、虚设字线驱动器、存储器阵列、N个读出放大器和时序控制电路。
