1、本发明涉及X*线荧光分析技术，它公开了一种X*线荧光分析装置。
2、文章的重点是SR在X*线荧光分析（XRFA）中的应用。
3、使用质子激发X*线荧光分析方法（PIXE）测定颗粒物中近20种元素。
4、采用粉末样品直接压片法，通过基体校正等手段，建立了优质镁砂X*线荧光分析方法。
5、介绍新一代X*线荧光分析仪（XRF）在野外现场矿产勘察中的应用效果。
6、通过化学加入法校正吸收效应，采用X*线荧光分析法（XRF）分析人发样品，确定人发中微量元素的含量。
7、在X*线荧光分析过程中，由于分析样品中元素的母质来源及形成条件不同，存在明显的吸收增强-基体效应。
8、采用粉末直接压片法，通过基体校正等手段，建立了*石X*线荧光分析方法，该方法快速、准确、成本低。
